DR探测器的分类有哪些

DR探测器的分类有哪些
DR技术的进步⼀直都是与平板探测器技术的发展紧密相连的。平板技术发展主要体现在:动态反应时间和尺⼨的⼤⼩、像素间距、MTF、DQE等⽅⾯。根据探测器的⼯作原理和组成材料的不同,DR探测器的分类主要有三种:CCD、⼀线扫描和⾮晶体平板也就是我们所说的X光平板探测器。
【CCD】
因为存在着⼀定的物理局限性,普遍认为CCD并不能够胜任⼤⾯积平板的采像⼯作,⽽且CCD设备在所采集的图像的质量上与⾮晶硅/硒平板设备差上⼀段距离。不过因为CCD的价格优势,在世界范围内仍然有⼚家在使⽤着这种技术。
【⼀线扫描】
⼀线扫描也被称作⼀维线扫描技术,这项技术是由俄罗斯科学院核物理研究所发明出来的,⽬前我国国内⽣产该DR探测器的⾮常少。这项产品虽然设备造价和受照剂量⽅⾯都⽐平板技术要低很多,但是这项技术有着⼀些先天性的不⾜:X射线使⽤效率低、空间分辨率低、成像时间长、成像质量差以及医⽣和病体会收到⼤量辐射。普光气田
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特奥【⾮晶平板】
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⾮晶平板由不同的材料也可以分为两种类别:a-Se⾮晶硒层和a-Si⾮晶硅层
a-Se(⾮晶硒平板探测器):这是⼀种直接探测的技术,在硒涂料层直接探测到X光⼦然后将其电信号转化成数字信号。⽬前这种技术应⽤范围较少,属于⾮主流X光平板探测器。
a-Si(⾮晶硅平板探测器):这是⼀种两步数字转换的技术,X光⼦先变成可见光,然后利⽤光电探测技术探测到,再将其转化为数字信号。因涂层的技术不同,⼜可以分为⾮晶硅+氧化钆平板探测器和⾮晶硅+碘化铯平板探测器。⽬前这种技术⼴泛应⽤于世界各⼤知名⼚商中,应⽤范围⾮常⼴。绥化学院图书馆
以上就是DR探测器的分类。CCD由于物理⽅⾯的限制,⽣产⼯艺和门槛也⽐较低,已经开始逐渐被淘汰了;⼀线扫描也由于⾃⾝的缺憾很那作为主流产品;⾮晶体平板有具有的优势都不是前两者可以⽐的,所以⽬前最为成熟主流的DR探测器就是X光平板探测器。
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本文发布于:2023-06-23 16:08:37,感谢您对本站的认可!

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标签:平板   技术   探测器   X光   晶硅   设备   成像
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